AFM测试,即原子力显微镜技术,是一种利用原子级分辨率研究物质表面结构和性质的精密仪器。在纳米科学研究中,它是不可或缺的基本工具。AFM通过测量微悬臂与样品表面的极微弱力变化,揭示表面形貌信息,对样品的要求较高,如粉末、块状和液体样品需经过特定处理才能进行测试。
原子力显微镜工作原理是利用针尖与样品间原子间的排斥力,通过微悬臂的垂直运动来获取数据。粉末样品通常采用胶纸法,块状样品需要抛光以降低表面粗糙度,而液体样品要求浓度适中以防粒子团聚。AFM适用范围广泛,可以分析有机固体、聚合物、生物大分子等,样品尺寸需控制在1cm以下,表面起伏不超过15μm,测试薄膜厚度应在15μm以下。
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